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Charakterisierung von Nanostrukturen, Myhra, Sverre & Rivière, John C., C12-

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eBay-Artikelnr.:256473100267

Zuletzt aktualisiert am 09. Mai. 2024 12:26:08 MESZAlle Änderungen ansehenAlle Änderungen ansehen

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Artikelzustand: Gut: Buch, das gelesen wurde, sich aber in einem guten Zustand befindet. Der Einband weist nur sehr ... Gut: Buch, das gelesen wurde, sich aber in einem guten Zustand befindet. Der Einband weist nur sehr geringfügige Beschädigungen auf, wie z.B. kleinere Schrammen, er hat aber weder Löcher, noch ist er eingerissen. Bei gebundenen Büchern ist der Schutzumschlag möglicherweise nicht mehr vorhanden. Die Bindung weist geringfügige Gebrauchsspuren auf. Die Mehrzahl der Seiten ist unbeschädigt, das heißt, es gibt kaum Knitter oder Einrisse, es wurden nur in geringem Maße Bleistiftunterstreichungen im Text vorgenommen, es gibt keine Textmarkierungen und die Randbereiche sind nicht beschrieben. Alle Seiten sind vollständig vorhanden. Genauere Einzelheiten sowie eine Beschreibung eventueller Mängel entnehmen Sie bitte dem Angebot des Verkäufers. Alle Zustandsdefinitionen ansehenwird in neuem Fenster oder Tab geöffnet

ISBN: 1439854157

Book Title: Characterization of Nanostructures

Publication Year: 2012

Type: Textbook

Format: Hardcover

Subject Area: Nanotechnology

Language: English

Publication Name: Characterization of Nanostructures

Item Height: 234mm

Author: Sverre Myhra, John C. Riviere

Publisher: Taylor & Francis INC International Concepts

Item Width: 156mm

Item Weight: 635g

Number of Pages: 350 Pages

Über dieses Produkt

Product Information

The techniques and methods that can be applied to materials characterization on the micro-scale are ubiquitous and well-established. Providing an overview of the physical principles of various methods, this book explores how new and old techniques can be brought to bear together on the interrogation of nanotechnology systems of great current interest. The authors focus on the needs in the research laboratory but also address the needs of quality control, industrial trouble shooting, and online analysis. Describing the operational modes most relevant to nanoscale characterization, the text also offers unique content on systems of different dimensionalities and functionalities.

Product Identifiers

Publisher

Taylor & Francis INC International Concepts

ISBN-13

9781439854150

eBay Product ID (ePID)

114873847

Product Key Features

Subject Area

Nanotechnology

Author

Sverre Myhra, John C. Riviere

Publication Name

Characterization of Nanostructures

Format

Hardcover

Language

English

Publication Year

2012

Type

Textbook

Number of Pages

350 Pages

Dimensions

Item Height

234mm

Item Width

156mm

Item Weight

635g

Additional Product Features

Title_Author

John C. Riviere, Sverre Myhra

Country/Region of Manufacture

United States

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